随着车联网、自驾技术与电动汽车的迅速发展，车用电子市场正面临日益严苛的验证挑战。从ISO 26262功能安全标准到AEC-Q可靠度规范，验证需求已超越传统，进化为涵盖全系统集成、智能预防与市场竞争力提升的新格局。（数据源：闳康科技；文章编修：科技新报）
MAtek X SGS携手驱动车用电子认证进化论（Source:闳康科技）
为应对这些挑战，闳康科技携手全球认证领导者SGS，结合双方在功能安全、可靠度测试、软失效分析以及失效材料鉴定的专业技术，推出车用电子验证全方位解决方案，助力产业应对未来需求。本次联合研讨会，聚焦ISO 26262 V-model设计与测试需求，深入探讨AEC-Q暂态性失效测试，以及分享FA Total-Solution实战案例。
活动预计涵盖四场专业演讲，包括SGS张国梁技术经理《半导体芯片幅和车用功能安全标准ISO26262与可靠度需求》，演讲将聚焦ISO 26262功能安全标准对半导体芯片的核心要求；第二场由闳康科技张筌钧副处长《车用电子零件验证与挑战》，针对车用电子零件的验证，从行业现状、核心挑战到合作伙伴的选择，为与会者提供全面的思路。第三场则为SGS郑振维经理《AEC-Q以及ISO26262对暂态性失效之测试要求：如何降低器件的暂态性失效？》，将分享如何有效应对暂态性失效，并提供实用的解决方案。第四场则为闳康科技故障分析业务群林于腾副处长《FA Total-solution Procedure and Case Sharing》，讲座涵盖故障分析（FA）全流程，包括非破坏性分析（Level I）、电性失效分析（Level II）及物理失效分析（Level III），结合IC设计、封装和可靠性测试中的实际案例，展示如何通过关键技术应用，提升车用电子组件的整体可靠度，并有效解决关键故障问题。通过本次研讨会，与会者将全面掌握车用电子技术的未来发展方向，并挖掘市场竞争优势。
（首图来源：Shutterstock；数据源：闳康科技）
